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pulstec/s-Laue X射線單晶取向測量裝置特征?

更新時間:2023-11-23      瀏覽次數:388

特征如下:

Laue 相機節省空間且易于操作。

可以高速獲取單晶材料的 X 射線衍射(勞厄斑)圖像。

這是一種桌面型,結合了風冷式 X 射線發生器和高靈敏度探測器。

X 射線垂直向下入射,因此可以輕松設置樣品。

使用顯微鏡可以進行精確對準。

緊湊輕便,節省空間。


使用示例

主平面方向的測量

檢查并調整切割方向

結晶度評價

晶體生長、加工相關

半導體器件制造和開發

用途/特長:

方位·調整確認結晶

空冷·通過小型化節省空間

結晶性的評價

測定簡單操作·高速


X射線單晶方位測定裝置s-Laue

桌面型任何人簡單測量

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