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shibasoku多重測試系統介紹?

更新時間:2024-05-10      瀏覽次數:175

晶圓同步測量系統

WL15VW+功率器件BOX 功率半導體晶圓同時測量系統

[目標器件] IGBT、MOSFET、SBD、FRD、IPM、IPD、芯片

[WL15VW+功率器件盒]


2000V/30A 4路同時測量規格示例

+2000V/±20mA

±128V/±5A

±60V/±30A

±64V/±160mA

最多可同時測量32個項目

image.png

高電壓/大電流功率半導體測試系統

WL25MV多級高壓/大電流功率半導體測試系統

[目標器件] IGBT/MOSFET模塊、芯片


8個多級兼容(AC測量/DC測量級)

數據集中管控(多產品窗口)

提供穩定的生產環境

配備過流保護功能,防止動態特性測試時器件損壞。


image.png

緊湊型多重測試系統

[目標器件] 汽車傳感器、汽車穩壓IC等

一個系統最多可進行 4 級異步測量。主體非常緊湊,可以靠近搬運機器連接。主機內部設有應用區域,減少了連接到主機的電纜數量。

規格 

可并行測量

模擬引腳:64V/1.5A:32CH

數字引腳:50MHz:32CH

已安裝模塊

高壓V/I 2000V/20mA

大電流V/I 16V/100A

時間

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