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otsukael 多分析物納米顆粒尺寸測量系統 nanoSAQLA

更新時間:2024-07-26      瀏覽次數:162

多分析物納米顆粒尺寸測量系統 nanoSAQLA


nanoSAQLA是采用動態光散射法(DLS法)的粒徑測量裝置(粒徑0.6nm至10μm)。

配備進一步追求質量控制需求的各種功能。

一種新的光學系統,支持從稀釋系統到濃縮系統的寬濃度范圍內的多分析物測量,實驗室的輕量化和緊湊設計,以及標準的 1 分鐘高速測量。


此外,這款新產品是非浸入式的,不受污染影響,標配“5個樣品連續測量",無需自動進樣器。


特征:

用一臺

 設備輕松連續測量 5 個樣品 實現了多個樣品的連續測量,這在沒有自動進樣器的情況下是困難的

 也可以通過改變每個樣品的條件進行測量。

與稀釋到濃縮系統兼容

標準測量時間:1分鐘高速測量

 針對濃樣品和稀樣品自動調整最佳測量位置,實現約1分鐘高速測量

配備簡易測量功能(一鍵開始測量)

 軟件簡單易懂,無需復雜操作

內置非浸入式池塊,消除污染,無需分液。每個

 池都是獨立的,無需擔心污染。

配備溫度梯度功能

 ,方便溫度設定


測量范圍(理論值):

粒徑0.6nm~10μm

濃度范圍0.00001~40%

溫度范圍0~90℃*


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