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產品分類技術文章/ article
支持精細去毛刺和刀痕去除Sirius裝置可實現窄槽和內徑區域的精細去毛刺并改善表面粗糙度，是一種干式噴射拋光工藝，利用壓縮空氣將含有磨粒的介質高速噴射到具有細顆...
特征內置采樣系統，非常適合點測量使用內置傳感器進行流量監控無需外部設備-60至+20℃dp露點測量聚合物傳感器具有優異的響應速度主要用途干燥空氣點管理N2、Ar等各種氣體的測量工業爐現場管理SF6氣體中的水分測量觀點取樣系統這是內置燒結過濾...
特征國內開發、國內制造、國內校準獲得日本國內防爆（TIIS）認證。-100至+20°Cdp露點測量范圍精度±2℃dp高響應速度有競爭力的定價體系可在0區使用完善的支持體系可追溯至國家標準主要用途石化過程可燃氣體、氮氣、氫氣、甲...
特征日本開發、日本制造、日本國內校準-100至+20℃dp露點測量范圍精度±2℃dp高響應速度有競爭力的定價體系交貨快捷完善的支持體系可追溯至國家標準主要用途手套箱中的露點控制干燥機露點檢查熱處理爐內氣氛控制潔凈室和干燥室的露...
產品特點/功能手持式方塊電阻測量儀，方便攜帶和測量可與兩種類型探頭（無損型和接觸型）互換使用的手持式方塊電阻測量裝置。只需放置/應用探頭即可自動測量電池連續工作時間：24小時（*使用電池時）顯示數據數：最多100條（*從最新數據開始顯示）保...
產品特點及功能只需觸摸手持式探頭即可測量電阻在電阻率和方塊電阻測量模式之間輕松切換通過JOG旋鈕進行簡單的測量條件設置可更換連接器連接的電阻測量探頭以支持寬范圍的電阻（電阻探頭：最多可使用2+PN確定探頭）測量對象半導體及太陽能電池材料（硅...
產品特點/功能只需將樣品插入探頭之間即可測量的簡單測量儀器在電阻率和方塊電阻測量模式之間輕松切換通過JOG旋鈕進行簡單的測量條件設置測量目標半導體及太陽能電池材料（硅、多晶硅、SiC等）新材料/功能材料（碳納米管、DLC、石墨烯、銀納米線等...
白度是描述物體表面反射光線中白色成分相對比例的指標，廣泛應用于各個行業中。白度分光光度計是一種常用的儀器設備，用于測量和評估物體的白度。本文將介紹白度光度計在多個行業中的廣泛應用，展示其在不同領域中的重要性和作用。1、紡織工業：白度分光光度...
產品特點/功能測量測試儀（RT-70V）和測量臺的組合使用JOG旋鈕輕松操作?厚度、溫度、PN輸入（RT-70V測試儀）自檢功能、自動測量范圍切換、4種測量模式具有厚度和溫度校正功能（適用于硅）測量規格測量目標半導體及太陽能電池材料（硅、多...
產品特點/功能Napson的4探頭測量系統采用盒式（*部分為Jandel原創類型）。我們還為其他公司的設備提供6針連接器類型和小型模塊類型。(1)墨盒類型（Napson原裝）[第1張產品圖片](2)Jandel原裝類型[第2張產品圖片]Ja...
作用控制光的擴散并實現更高分辨率的視覺檢查的模型。?符合日本光學玻璃工業協會標準?檢查目的的光學系統?超過15年的鏡頭和玻璃檢查經驗?可檢查最大20微米劃痕的缺陷。中心照度（1000mm距離）250勒克斯檢查方法直視型投影式反射投影模型OP...
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